品 牌：上海欣茂
大平片光谱测试仪（手机屏IR 孔测量等）主要技术指标：
波长范围： 325nm～1100nm
波长精度： ±1nm
波长重复性： ≤0.5nm
光谱带宽： 1.6nm（小测量直径Φ0.5mm）
2.7nm（小测量直径Φ0.7mm）
5.0nm（小测量直径Φ1.1mm）
6.6nm（小测量直径Φ1.4mm）
测量范围 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C
透射比准确度： ±0.5%（τ）
透射比重复性： ≤0.2%（τ）
基线直线性： ±0.004A
杂散光： ≤0.3%T(340、420nm)
大 可 测 片： 300mm x 400mm
工作电压： AC 100V~240V 50Hz/60Hz
更新时间：2024/3/23 9:15:24
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